苏州英飞思科学仪器有限公司,英文名字:Efficiency Scientific Instrument Co.,Ltd.
公司logo和英文缩写为ESI。
英飞思ESI坐落于美丽而现代的苏州工业园。
XRF镀层测厚仪工作原理镀层测厚仪是将X射线照射在样品上,通过从样品上反射出来的第二次X射线的强度来测量镀层等金属薄膜的厚度,因为没有接触到样品且照射在样品上的X射线能量很低,所以不会对样品造成损坏。同时,测量的也可以在10秒-30秒内完成。
>镀铬,例如带有装饰性镀铬饰面的塑料制品
>钢上锌等防腐涂层
>电路板和柔性PCB上的涂层
>插头和电触点的接触面
>电镀液分析
>镀层,如金基上的铑材料分析
>电镀液分析
>分析电子和半导体行业的功能涂层
>分析硬质材料涂层,例如 CrN、TiN 或 TiCN
>可拓展增加RoHS有害元素分析功能
膜厚仪EDX8000B可分析的常见镀层材料
可测试重复镀层、非金属、轻金属、多层多元素以及有机物层的厚度及成分含量。
单涂镀层应用:如Cr/Fe, Ni/Fe, Ag/Cu,Zn/Fe等
多涂镀层应用:如Au/Ni/Cu, Ag/Pb/Zn, Ni/Cu/Fe等
合金镀层应用:如ZnNi/Fe, ZnAl/Ni/Cu等
合金成分应用:如NiP/Fe, 同时分析镍磷含量和镀层厚度
以上信息由专业从事XRF镀层测厚仪厂家的英飞思科学于2025/8/16 20:44:35发布
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